薄膜的厚度是否均勻是檢驗薄膜性能的依據。顯然，如果一(yī)批單層薄膜的厚度不均勻，不僅會影響薄膜的抗拉強度和阻隔性能，還會影響薄膜的後續加工(gōng)。此外(wài)，合理控制産品厚度，不僅可以提高産品質量，還可以降低材料消耗，提高生(shēng)産效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預設值一(yī)緻，厚度偏差是否在範圍内，都是薄膜能否具備一(yī)些特性指标的重要前提。薄膜厚度測量是薄膜制造行業的基本檢測項目之一(yī)。
薄膜測厚儀采用機械接觸測量原理，截取一(yī)定尺寸的圖案；通過控制面闆上的按鈕調整測頭落在圖案上；材料的厚度是通過兩個接觸面産生(shēng)的壓力和傳感器測量的兩個接觸面積來測量的。
1、接觸面積和測量壓力嚴格按照标準設計，同時支持各種非标定制。
2、薄膜測厚儀測試時測頭自動升降，有效避免人爲因素造成的系統誤差。
3、支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。
4、系統可自動進樣，進樣步驟、測點、進樣速度等相關參數可由用戶自行設置。
5、測量結果的平均值、标準偏差等分(fēn)析數據實時顯示，方便用戶判斷。
6、配置标準量塊進行系統校準，确保測試的準确性和數據一(yī)緻性。
7、系統支持實時數據顯示、自動統計、打印等多項實用功能。
8、5寸觸摸屏控制，方便用戶進行測試操作和數據查看。
9、薄膜測厚儀标準USB接口，方便系統與電腦的外(wài)部連接和數據交換。
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