不了解基礎參數，怎麽能用好薄膜測厚儀？

　　随着科技的發展，近年來，薄膜的市場需求不斷增加。薄膜的厚度是産品的重要物(wù)理指标之一(yī)，它直接影響産品的産量、質量、經濟效益和生(shēng)産成本。薄膜厚度測量也是薄膜制造業的基本檢測項目之一(yī)。薄膜測厚儀采用顯微光譜法測量小(xiǎo)範圍内的反射率，可進行高精度的膜厚/光學常數分(fēn)析。

　　

　　
 

　　

　　不了解基礎參數，怎麽能用好薄膜測厚儀？基本參數方面主要包括測量原理、測量範圍、測量誤差、數據存儲、統計值、最小(xiǎo)曲率半徑、最小(xiǎo)測量面積、最小(xiǎo)基材厚度、被測物(wù)體(tǐ)材料重量、薄膜測厚儀尺寸、等等這些數據雖然在産品說明書(shū)或者設備标識闆上都有展示，但是做好初步的基礎了解是非常有必要的。如果事先不知(zhī)道，在正式操作中(zhōng)看，一(yī)般是趕不上的，但實際情況會很倉促。以測量原理爲例，需要針對不同的被測對象确定合适的測量原理，如磁感應原理或渦流效應原理。如果一(yī)開(kāi)始沒有正确選擇測量原理，那麽下(xià)面的操作就會一(yī)步步出錯。