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薄膜測厚儀

簡要描述：薄膜測厚儀采用光譜幹涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點，可在真空環境使用；可與大(dà)行程工(gōng)件台配合，實現大(dà)面積膜厚自動測量。

  • 産品型号：
  • 廠商(shāng)性質：生(shēng)産廠家
  • 更新時間：2024-06-04
  • 訪  問  量：1760

産品分(fēn)類

Product Category

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
産地類别進口應用領域醫療衛生(shēng),環保,化工(gōng),電子
産品名稱：薄膜測厚儀
主要技術指标：
   測量範圍（VIS）：15nm—100μm
   測量重複性（RMS）：0.086nm
   測量精度（與橢偏儀對比）：0.25nm
   測量層數：大(dà)于3層
   使用光源：鹵素燈；
入射角度：90°
   測試材料：透明或半透明薄膜材料；
   光斑尺寸：20μm—3mm（可選）
   測量時間：100ms—4ms；
   通信接口：USB2.0
産品特點：
采用光譜幹涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點；
可在真空環境使用；可與大(dà)行程工(gōng)件台配合，實現大(dà)面積膜厚自動測量。

薄膜測厚儀測試數據：

薄膜測厚儀設備組成：
測試主機、光纖、校正件、測量頭、夾持裝置、設備箱、手提電腦。
 

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