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  • 薄膜測厚儀
    薄膜測厚儀

    更新時間:2024-06-04

    型号:

    浏覽量:1760

    薄膜測厚儀采用光譜幹涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環境使用;可與大(dà)行程工(gōng)件台配合,實現大(dà)面積膜厚自動測量。
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  • 微納結構三維形貌測量儀
    微納結構三維形貌測量儀

    更新時間:2024-06-04

    型号:

    浏覽量:1736

    微納結構三維形貌測量儀系列微納結構三維形貌檢測儀,基于白(bái)光幹涉掃描原理,以光波長作爲測量基準,利用納米級高精度掃描系統結合具有自主知(zhī)識産權的高精度解析算法,實現連續或台階突變微納結構表面三維形貌重構,由此獲得待測物(wù)體(tǐ)三維形貌、表面紋理、微觀尺寸等各類外(wài)觀參數測量結果。
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