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  • 薄膜測厚儀
    薄膜測厚儀

    更新時間：2024-06-04

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    薄膜測厚儀采用光譜幹涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點，可在真空環境使用；可與大(dà)行程工(gōng)件台配合，實現大(dà)面積膜厚自動測量。
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